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Michael W. Evans  Michael W. Evans    Browse Items 
Charles S McCoy  Charles S McCoy    Browse Items 
William McNaughton  William McNaughton    Browse Items 
David L. MacAdam  David L. MacAdam    Browse Items 
Stephen J. Dubner  Stephen J. Dubner    Browse Items 
H.-G. Elias  H.-G. Elias    Browse Items 
M. K Badawy  M. K Badawy    Browse Items 
Samuel M. Natale  Samuel M. Natale    Browse Items 
Nelson Winkless  Nelson Winkless    Browse Items 
Raymond H. Clark  Raymond H. Clark    Browse Items 
E. C. Lowenberg  E. C. Lowenberg    Browse Items 
Robert L. Childress  Robert L. Childress    Browse Items 
Harry M. Kraemer  Harry M. Kraemer    Browse Items 
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Eugene Rochow  Eugene Rochow    Browse Items 
Daniel Kleppner  Daniel Kleppner    Browse Items 
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures  IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures    Browse Items 
Norman Ramsey  Norman Ramsey    Browse Items 
R. M. Christensen  R. M. Christensen    Browse Items 
Arnold M. Ruskin  Arnold M. Ruskin    Browse Items 
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